Ключевые слова: ионно-плазменная модификация, однородность модифицированного слоя, степень локального реагирования (SLR), толщина модифицированного слоя, плазменная обработка, тлеющий разряд, контроль качества, детали сложной формы, XPS, GD-OES
Страницы: 160-176
Аннотация
С использованием информационных технологий реализован параметрический подход к оценке
неоднородности модифицированного поверхностного слоя на заготовках сложной формы, основанный
на применении степени локального реагирования (SLR — Sensitivity Level for Response). Изменение
чувствительности критерия к локальным вариациям глубины модифицированного слоя позволяет
количественно оценивать степень его однородности. Предлагаемый подход обеспечивает избирательный
учет экстремальных дефектов, критичных для функционального состояния рабочих сопрягаемых поверхностей
в прецизионных изделиях, и в этом отношении он обладает большей информативностью по сравнению
с традиционными дисперсионными характеристиками. При построении модели использован вариационный
формализм, учитывающий геометрию объекта, пространственное распределение ионного потока и эффект
экранирования. Проведено численное моделирование для сферических заготовок, выполнено сопоставление
расчетных данных с результатами экспериментальных измерений методами XPS и GD-OES, а также
проанализирована чувствительность модели при различных режимах обработки в тлеющем разряде.
Полученные результаты демонстрируют высокую точность модели (MAE = 10,4 нм, R2 = 0,96) и подтверждают
практическую применимость предложенного подхода для оптимизации технологических режимов и построения
систем контроля качества при обработке поверхностей сложной формы.